当校正室の認定番号 は
です。株式会社ミツトヨ 広島事業所 宮崎製造部
です。 
事業内容
校正施設および主要装置の概要
関連リンク先・問い合わせ窓口
連絡先
| 計量器等の区分 | 種 類 | 校正範囲 | 最高測定能力 （k=2,L=呼び寸法mm） |
| 一次元寸法測定器 | ブロックゲージ （光波干渉測定法） |
0.1mm以上100mm以下 | 0.020μm |
| 100mmを超え250mm以下 | （0.010+0.000080L）μm | ||
| 250mmを超え1000mm以下 | （0.020+0.00020L）μm | ||
| ブロックゲージ （比較測定法） |
0.1mm以上100mm以下 | 0.06μm | |
| 100mmを超え1000mm以下 | （0.04+0.00043L）μm | ||
| 各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの （光波干渉測定法） |
0.1mm以上2010mm以下 | （0.26+0.54L/1000）μm |
校正証明書（ＪＣＳＳロゴ付き）の発行
 |
（１） |
光波干渉測定法： 0.1mm以上1000mm以下の全てのゲージブロックに発行することが可能です。 |
| （２） | 比較測定法：特殊なゲージブロックを除いたほとんどの種類に添付する事が可能です。詳細は弊社の営業センタにお問い合わせください。 |
写真１ ゲージブロック自動光波干渉計
（１） 光波干渉測定室（地下測定室）
温度 20℃±0.5℃
湿度 40%〜65%
（２） 比較測定室
温度 20℃±1℃
（３） 光波干渉計
１） ゲージブロック自動光波干渉計（自社製
写真1）
基本仕様
光源： 安定化He-Neレーザ
測定範囲： 〜250mm
測定精度： ±20nm/100mm、±40nm/200mm
測定能率： 6分／個（40個／日）
２） 長尺横形干渉計（自社製）
基本仕様
光源： 安定化He-Neレーザ
測定範囲： 100mm〜1000mm
測定精度： ±190nm/1000mm
３） 段差ゲージ用光波干渉計（自社製）
基本仕様
光源： 安定化He-Neレーザ
測定範囲： 0.1mm〜2010mm
測定精度： ±800nm/1000mm
（４） 比較測定機
１） 自動比較測定機
基本仕様
測定範囲： 0.5mm〜100mm
測定精度： ±20nm
測定力： 2.2N±0.2N
２） 手動式比較測定機
基本仕様
測定範囲： 0.5mm〜100mm
測定精度： ±20nm
測定力： 2.2N±0.2N